基于近红外和中红外光谱技术的小麦粉品质检测及掺杂鉴别方法

• 作者: 刘翠玲 吴胜男 孙晓荣 徐一茹 董秀丽
• 来源期刊: 食品科学
• 学科: 工学
• 关键词: 小麦粉 近红外光谱 中红外光谱 偏最小二乘法 聚类分析
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 128-132
• 页数: 5页
• 分类号: TS207.3
• 字数: 4782字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7506/spkx1002-6630-201412025

摘要

针对国家标准法检测小麦粉品质的传统方法存在一定缺陷,提出基于近红外光谱和中红外光谱技术快速检测面粉的方法,并基于偏最小二乘法建立了矫正模型,对小麦粉的灰分、水分、面筋品质指标进行了分析.对于小麦粉的掺杂鉴别问题,基于标准法测光谱距离建立了聚类分析模型,结果表明,可实现对小麦面粉品质的快速检测及掺杂鉴别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙晓荣	北京工商大学计算机与信息工程学院	79	396	10.0	15.0
2	刘翠玲	北京工商大学计算机与信息工程学院	119	568	11.0	17.0
3	吴胜男	北京工商大学计算机与信息工程学院	16	146	7.0	11.0
4	董秀丽	北京工商大学计算机与信息工程学院	10	55	5.0	6.0
5	徐一茹	北京工商大学计算机与信息工程学院	1	12	1.0	1.0