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摘要:
文章建立了直接测定半导体三级甲醇多元素含量的方法。以膜去溶作为进样系统,四级杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)作为分析仪器,采用热焰模式分析。首先测定CMOSIII甲醇,然后测定以Be,Co,In,Bi作为加标的CMOSIII甲醇,加标样品测定加标回收率,同时测定Na,Mg,K,Ca,Fe的检出限。实验结果证明该方法具有进样速度快、精密度高等优点。热焰模式提高了碳的燃烧度,溶液中离子电离效率得到提升,降低了锥孔碳的积累,仪器信号漂移变缓,提高了准确度。膜去溶与ICP-MS联用是快速分析半导体三级甲醇中金属离子的有效方法,膜去溶的使用解决了常规雾化器进样容易熄火的问题,有效的减小了基体干扰,同时热焰模式提高了仪器的整体灵敏度。
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 膜去溶和ICP-MS联用热焰模式直接测定CMOSIII甲醇中金属离子的含量
来源期刊 科技信息 学科
关键词 甲醇 电感耦合等离子体质谱仪 膜去溶 热焰 多元素
年,卷(期) 2014,(10) 所属期刊栏目 工程与技术
研究方向 页码范围 69-69,82
页数 2页 分类号
字数 2498字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李海燕 8 2 1.0 1.0
2 刘国强 9 4 1.0 1.0
3 赵淑兰 7 3 1.0 1.0
4 方晓红 5 3 1.0 1.0
5 刘毅春 4 2 1.0 1.0
6 董天姿 2 2 1.0 1.0
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大16开
山东省济南市
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1984
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