基于IEEE1149．4的模拟集成电路性能测试技术研究

• 作者: 葛勇 薛冰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 模拟集成电路 可测性设计 功能测试 IEEE1149.4
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TP216
• 语种: 中文

摘要

针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题，设计了基于IEEE1149．4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统；该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路，并由控制器内部向被测电路施加激励，通过充分利用电路系统中已有数模混合资源，在添加极少的电路元件的基础上，实现了基于 FPGA 的模拟集成电路性能测试系统；实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试，其频率特性的测试结果误差均小于5％，表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛勇		15	21	3.0	4.0
2	薛冰		9	3	1.0	1.0