基于边界扫描的存储器BIST技术

• 作者: 常青
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 BIST SRAM 两级移位 “1”算法
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TP33
• 语种: 中文

摘要

近年来，随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加，迫切需要基于边界扫描的 BIST 技术；在这种应用模式中，基于边界扫描的 BIST 技术能解决现场级快速测试诊断需求；存储器在板级模块上经常使用，其 BIST 是板级 BIST 的重要组成部分；文章紧密联系应用需求，并以工程应用作为参考目标，提出了一种易于实现的基于两级移位“1”算法的 SRAM 簇测试算法，该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100％覆盖，并给出了基于该测试算法的 SRAM 簇测试 BIST 架构。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常青		4	4	1.0	2.0