超高速多通道瞬态测试系统软硬件设计技术研究

• 作者: 张荣 王松 陈颖 黄海莹
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 超高速瞬态测试系统 PXI Express总线 RAID阵列流盘 状态机
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 3500-3503
• 页数: 4页
• 分类号: TP751
• 语种: 中文

摘要

介绍采样频率为2～10 MHz的64通道超高速同步瞬态测试系统的设计技术,主要包括超高速瞬态测试系统的两类硬件架构设计及其软件架构设计;详细讲述基于PXI Express总线传输和高速RAID阵列数据持续流盘存储与基于大容量板载数据缓存和总线下载传输的测试系统硬件架构,并应用生产者/消费者结构与有限状态机结合的软件架构进行高性能测试系统软件设计;针对数十GByte海量测试数据的存储、回调编程以及多通道波形显示等系统软件设计关键技术问题提出解决方案;基于上述技术方案,设计了256 MB/s流盘速度连续采集时间达5 min以上的同步流盘测试系统以及10 MHz/Ch持续时间6.4s的64通道超高速瞬态测试,满足瞬态测试的各种应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄海莹	中国工程物理研究院总体工程研究所	22	76	4.0	7.0
2	张荣	中国工程物理研究院总体工程研究所	41	191	8.0	11.0
3	王松	中国工程物理研究院总体工程研究所	14	36	4.0	5.0
4	陈颖	中国工程物理研究院总体工程研究所	30	218	9.0	13.0