一种光学频率梳绝对测距的新方法?

• 作者: 吴翰钟 张福民 曲兴华 曹士英 邢书剑
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 光学频率梳 绝对测距 光强
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 100601-1-100601-10
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.63.100601

摘要

采用光学频率梳的高精度绝对距离测量技术在航空航天、科学研究和工业生产等领域都发挥着重要作用.提出一种利用光学频率梳技术，通过检测光强实现绝对距离测量的新方法，研究了光学频率梳发出脉冲的时间相干性，分析了光强与被测距离之间的关系、干涉条纹峰值点位置与被测距离之间的关系.建立了基于Michelson干涉原理的测距系统，通过测量光强信息得到被测距离.以高精度纳米位移平台的位移量作为长度基准进行了绝对测距实验，在每个被测距离点都重复进行了10次实验，将10次实验测得的光强值取平均后用于距离的计算.实验结果表明，该方法可以实现绝对距离测量，在10μm测量范围内，最大误差为47 nm.因此，该方法可以应用于大尺寸高精度的绝对距离测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曲兴华	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	131	1717	25.0	35.0
2	张福民	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	66	612	15.0	23.0
3	邢书剑	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	6	111	6.0	6.0
4	曹士英	中国计量科学研究院时间频率计量研究所	15	77	4.0	8.0
5	吴翰钟	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	8	74	5.0	8.0