基于FPGA的边界扫描测试系统设计

• 作者: 方晓畅
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 边界扫描控制器 1149.1 FPGA USB2.0
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 160-161
• 页数: 2页
• 字数: 1452字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的快速发展，传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实，边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明，该系统测试方便，简单。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方晓畅	华南师范大学物理与电信学院	1	1	1.0	1.0