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单片机频率特性测量仪的研究及设计
单片机频率特性测量仪的研究及设计
作者:
许翠
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
单片机
频率特性测量仪
特点
摘要:
单片机作为一种核心芯片,在生产领域运用广泛,单片机频率特性测量仪作为应用的一部分,有着其他频率特性测量仪所没有的优势,同时,基于单片机的频率特性测量仪也有所研究和设计,本文就单片机频率特性测量仪的一些特性做简单介绍,同时,对一种基于单片机的频率特性测量仪进行分析和研究。
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文献信息
篇名
单片机频率特性测量仪的研究及设计
来源期刊
科学时代
学科
关键词
单片机
频率特性测量仪
特点
年,卷(期)
2014,(11)
所属期刊栏目
信息技术应用?Information Technology
研究方向
页码范围
358-359
页数
2页
分类号
字数
1271字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
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姓名
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许翠
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节点文献
单片机
频率特性测量仪
特点
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科学时代
主办单位:
海南省科学技术咨询服务中心
出版周期:
半月刊
ISSN:
1005-250X
CN:
46-1039/G3
开本:
16开
出版地:
北京市
邮发代号:
24-165
创刊时间:
1993
语种:
chi
出版文献量(篇)
29981
总下载数(次)
66
总被引数(次)
7910
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