X荧光仪在金属矿地质勘查中的应用分析

• 作者: 刘文俊 王全宏
• 来源期刊: 城市建筑
• 关键词: X荧光仪 金属矿 地质勘查
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 城市建筑
• 页码范围: 180-180
• 页数: 1页
• 字数: 2432字
• 语种: 中文

摘要

近些年，由于受到各种条件的制约，矿产资源评价以及地质勘查均受到或多或少的影响。本文主要说明了X荧光仪设备的理论研究基础、X 荧光仪设备的分析手段、X荧光仪的应用现状以及在金属矿地质勘查中 X 荧光仪的实际应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王全宏		3	9	2.0	3.0
2	刘文俊		2	2	1.0	1.0