基于运行模式切换的低不匹配误差高动态范围CMOS智能温度传感器?

• 作者: 冯忱晖 单文焘 张培勇
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温度传感器 不匹配误差 动态范围 CMOS工艺
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 传感器应用
• 页码范围: 142-147
• 页数: 6页
• 分类号: TP212.1
• 字数: 3387字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2015.01.025

摘要

提出了一种新的电路结构，通过两种运行模式的切换，可以在降低CMOS智能温度传感器不匹配误差的同时，保证输出有尽可能高的动态范围。理论分析得出，相对于传统结构，新结构的不匹配误差能减小66%以上。0.18μm工艺环境下的仿真结果表明，在-55℃~125℃的温度范围内，输出能达到90%左右的动态范围，和Pertijs提出的改进结构相比，有较大幅度的提高。芯片实测结果在-10℃~100℃的温度范围内证实了这个结论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张培勇	浙江大学超大规模集成电路研究所	17	46	3.0	6.0
2	单文焘	浙江大学超大规模集成电路研究所	1	5	1.0	1.0
3	冯忱晖	浙江大学超大规模集成电路研究所	3	25	3.0	3.0