小角X光散射绝对强度的两种测试方法

• 作者: 柳义 王连文
• 来源期刊: 光散射学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 小角X光散射 绝对强度 衰减法 标样法
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 59-63
• 页数: 5页
• 分类号: O722+.5
• 字数: 4032字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13883/j.issn1004-5929.201501012

摘要

用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度,并以此计算样品中的空隙体积分数关系.将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较,表明了用标样法得到的结果更加接近于氮气吸附法测量得到的结果,因而间接地表明了标样法要比衰减法测得的小角散射绝对强度更加可靠.文章进一步讨论了这两种方法的特点以及误差产生的原因.该实验结果和讨论将有助于进一步加深对这两种绝对强度测试方法的理解,并在实验中选择合适的测量方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柳义	中国科学院上海应用物理研究所	19	81	6.0	8.0
2	王连文	兰州大学物理科学与技术学院	3	1	1.0	1.0