变压器绕组介质损失因数测试接线方式的探讨

• 作者: 于万祥 王忠伟 王福成 赵九文
• 来源期刊: 吉林电力
• 学科: 工学
• 关键词: 介质损失因数(tanδ) 变压器绕组 接线方式 高低压屏蔽
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 经验交流
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: TM835.4
• 字数: 2080字
• 语种: 中文

摘要

针对变压器绕组介质损失因数(tan δ)测试中存在的计算繁琐、测试操作次数及登高次数多带来的不安全因素增多等问题,利用变压器绕组tan δ测试中抗干扰电桥的特性,在实际测试数据分析基础上,介绍了高压屏蔽和低压屏蔽2种接线方式,通过比对,对于应用较广泛的AI-6000系列的抗干扰电桥,建议E型电桥使用低压屏蔽法,A、B、C、D型号电桥使用高压屏蔽法作为变压器绕组tan δ测试中的推荐方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于万祥	国网吉林省电力有限公司培训中心	4	1	1.0	1.0
2	赵九文		1	0	0.0	0.0
3	王福成		1	0	0.0	0.0