背景电荷对两点量子元胞自动机电路的影响

• 作者: 张明亮 杨晓阔 汪志春 蔡理
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 两点量子元胞自动机 背景电荷 传输线 反相器 概率模型
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 137-141
• 分类号: O471.1|TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.13250/j.cnki.wndz.2015.03.001

摘要

背景电荷是影响两点量子元胞自动机电路可靠性的一个重要因素.为了量化分析不同区域内背景电荷对两点量子元胞自动机信息正确传输概率的影响,建立了两点量子元胞自动机状态转换的概率模型,求解出目标元胞在背景电荷影响下发生翻转的概率.研究结果表明,以元胞尺寸和间距均取20 nm为例,信号沿水平方向传输时,背景电荷在离目标元胞40 nm范围内将导致元胞错误翻转;信号沿竖直方向传输时,背景电荷在离目标元胞32 nm范围内将导致元胞错误翻转.背景电荷对目标元胞输出状态的影响范围随电路中元胞间距的增大而增大,而与元胞尺寸无关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明亮	空军工程大学理学院	24	46	4.0	5.0
2	杨晓阔	空军工程大学理学院	45	108	6.0	8.0
3	蔡理	空军工程大学理学院	136	382	8.0	11.0
4	汪志春	空军工程大学理学院	7	1	1.0	1.0