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摘要:
亚微米尺寸金属电极在高电子迁移率晶体管(HEMT)等半导体电子学器件中有重要应用,其制作是器件制作中的关键工艺,对器件性能有着重要影响.本文选择合适的涂胶旋转转速、烘烤温度(180℃)和时间,可以有效地减少电子束曝光后所产生的气泡.通过对聚甲基丙烯酸甲酯/聚二甲基戊二酰亚胺(PMMA/PMGI)双层胶进行电子束曝光和显影,确定了合适的曝光剂量为550 μC/cm2.通过调整显影液配比,并将显影时间控制在合理范围,获得了光滑完整的PMMA/PMGI双层光刻胶曝光图形.开发了双层光刻胶电子束曝光工艺,制备出宽度为200 nm的金属电极.
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文献信息
篇名 亚微米尺寸金属电极的制备工艺
来源期刊 太赫兹科学与电子信息学报 学科 工学
关键词 双层胶 亚微米 电子束曝光 金属电极
年,卷(期) 2015,(4) 所属期刊栏目 微电子、微系统与物理电子学
研究方向 页码范围 646-648,658
页数 4页 分类号 TN304.07
字数 1381字 语种 中文
DOI 10.11805/TKYDA201504.0646
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研究主题发展历程
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双层胶
亚微米
电子束曝光
金属电极
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太赫兹科学与电子信息学报
双月刊
2095-4980
51-1746/TN
大16开
四川绵阳919信箱532分箱
62-241
2003
chi
出版文献量(篇)
3051
总下载数(次)
7
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