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摘要:
HAZOP分析和SIL评估后可以通过可靠性框图等方法进行SIL验证计算。根据IEC 61508平均失效概率的计算公式可以分别计算出传感器、逻辑控制器、最终元件的平均失效概率PFD,求其和,从而得出安全仪表功能的平均失效概率。根据平均失效概率值所落入的SIL等级的区间,可以判定其对应的SIL等级,从而实现SIL等级的验证。
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数据完整性验证
动态操作
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 安全完整性等级SIL的验证方法
来源期刊 化工与医药工程 学科 工学
关键词 安全完整性等级 可靠性框图 平均失效概率 硬件故障裕度
年,卷(期) 2015,(2) 所属期刊栏目 综述与专论
研究方向 页码范围 53-57
页数 5页 分类号 TH86
字数 3563字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 丁兰蓉 4 19 2.0 4.0
2 王俊 1 11 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
安全完整性等级
可靠性框图
平均失效概率
硬件故障裕度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
化工与医药工程
双月刊
2095-817X
31-2101/TQ
大16开
上海市延安西路376弄22号永兴商务大楼11楼
1972
chi
出版文献量(篇)
1939
总下载数(次)
10
总被引数(次)
4688
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