超环面晶体成像技术分析及实现

• 作者: 彭帝永 施军 肖沙里
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线光谱 成像 分辨力 超环面晶体
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 光电测量与检测
• 页码范围: 66-71
• 页数: 6页
• 分类号: O536
• 字数: 2618字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2015.09.011

摘要

为了在聚爆装置上对目标靶进行光谱分析及成像诊断,设计了超环面晶体X射线成像系统.从理论上分析了Johann型弯曲晶体结构的成像像差,利用模拟软件对基于布拉格结构的弯晶系统进行仿真成像,研究布拉格角与成像空间分辨力的关系.采用Oxford射线管、X射线检测器及云母超环面晶体对金属网格进行了X射线背光成像实验,实验获得了网格的X射线图像及铜的Kα射线光谱,结果表明超环面晶体能够进行微米级的高分辩成像,也可用于检测X射线光谱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖沙里	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	123	988	14.0	24.0
2	施军	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	23	105	7.0	9.0
3	彭帝永	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	3	29	2.0	3.0