隐藏在金相试样制备技术之后的科学磁

• 作者: 杨城
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 金相分析 金相试样制备技术 破坏性物理分析 失效分析
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性试验技术
• 页码范围: 137-141
• 页数: 5页
• 分类号: TG115
• 字数: 3892字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.036

摘要

现在，金相分析在破坏性物理分析（DPA ）和失效分析试验中的应用已越来越广泛。金相试样制备的质量直接影响着金相分析试验结果是否准确，在极端情况下，不正确的操作可能得到的并不是“真实界面”，从而得到错误的结论。所以，论文对隐藏在金相试样制备技术之后的科学展开研究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨城	湖北航天技术研究院计量测试技术研究所	8	9	2.0	3.0