星载互连并行Clos网络

• 作者: 刘凯 晏坚 陆建华
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 星载交换 可靠性 Clos网络 互连多平面
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 电子工程
• 页码范围: 838-843
• 页数: 6页
• 分类号: TN929.53
• 语种: 中文

摘要

针对空间辐射环境造成的星载交换可靠性下降的问题,提出了一种互连并行Clos (interconnected parallel Clos,IP-Clos)网络以抵抗空间辐射造成的交叉点故障和交换单元故障.IP-Clos包含多个Clos平面,相邻Clos平面通过平面间连接进行互连.通过采用平面间连接,每一级都存在多条路径到达下一级.理论计算表明,相比并行Clos网络,IP-Clos网络增加了交换单元间的连接数量,在交叉点故障和交换单元故障下具有更高的可靠性.数值分析表明,对于同步轨道(GEO)卫星,采用宇航级FPGAs实现的IP-Clos网络在交叉点故障下的平均失效时间大于2.1×105 d,在交换单元故障下的平均失效时间是6.86×103 d.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	晏坚		33	163	8.0	12.0
2	陆建华		117	826	16.0	25.0
3	刘凯		28	164	8.0	12.0