电磁继电器绝缘下降的失效分析与控制

• 作者: 孟猛 王智彬
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 绝缘下降 银离子迁移 失效分析
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TN784
• 字数: 1717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2015.03.011

摘要

文章通过对某电磁继电器不同引脚以及引脚与管壳之间绝缘下降进行失效分析, 采用显微镜外部目检、 扫描电镜检查和能谱分析等分析方法与手段, 揭示了银离子迁移是导致该继电器绝缘下降的失效原因. 阐述了银离子迁移的发生机理, 从生产和使用两个方面提出了避免银离子迁移在继电器中发生的控制措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王智彬	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	6	2	1.0	1.0
2	孟猛	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	8	16	2.0	3.0