内嵌于DDS高速DAC的动态参数测试

• 作者: 张凯虹 王建超 陈真
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 数字模拟转换器 动态参数测试 直接数字频率合成
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1671字
• 语种: 中文

摘要

对基于ATE和频谱仪的内嵌于DDS的高速DAC的动态参数进行测试实验，通过编程由ATE提供数字正弦波和时钟信号；通过频谱仪对DAC输出模拟信号采样，并通过VBT编程得到DAC的动态参数。最后将结果返回到ATE的Excel环境下与其他测试参数结果一起输出。整个流程由ATE主机控制，避免了芯片的二次测试，缩减了测试成本，实验证明在实际应用中该方法有很好的效果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张凯虹		20	27	3.0	4.0
2	王建超	江南大学物联网学院	4	5	1.0	2.0
3	陈真	江南大学物联网学院	5	2	1.0	1.0