基于分形维数的磁痕图像缺陷检测

• 作者: 卜燕 张华 杨薛涛 王姮
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 分形维数 裂纹 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 图形图像技术
• 页码范围: 603-605,612
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2015.02.063

摘要

针对荧光磁粉无损探伤自动检测中存在的磁痕识别率低、虚警率高、抗干扰能力弱和易受背景影响的问题，提出一种基于分形维数的磁痕图像缺陷在线检测方法。采用差分计盒维数算法求解得到磁痕图像的分形维数，并分析工件磁痕缺陷分形维数特征。实际运用中，实时采集工件图像，利用特征进行图像处理，判断工件是否存在缺陷。经过实验验证，采用基于分形维数特征的磁痕图像缺陷检测方法，能准确识别工件缺陷，磁痕识别率为80％，与常用检测磁痕方法相比，虚警率降低5％，受背景影响小，有较强的适用性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王姮	西南科技大学特殊环境机器人技术四川省重点实验室	63	459	10.0	19.0
2	张华	西南科技大学特殊环境机器人技术四川省重点实验室	193	1226	16.0	25.0
3	卜燕	西南科技大学特殊环境机器人技术四川省重点实验室	7	37	4.0	6.0
4	杨薛涛	西南科技大学特殊环境机器人技术四川省重点实验室	2	24	2.0	2.0