632.8 nm连续激光辐照可见光CMOS相机实验研究

• 作者: 张检民 张震 徐作冬 盛良
• 来源期刊: 现代应用物理
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS 激光辐照 功率密度阈值 激光干扰
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 激光、光学和光电子学
• 页码范围: 181-185
• 页数: 5页
• 分类号: TN249
• 字数: 2644字
• 语种: 中文

摘要

开展了632.8 nm连续激光辐照可见光JHSM36Bf CMOS相机实验研究,获得了632.8 nm连续激光使CMOS相机单像元饱和及全屏饱和的功率密度阈值.实验证实了CMOS比CCD抗激光干扰能力更强;连续激光比脉冲激光更容易实现对CMOS相机的干扰;分析了CMOS串扰现象与CCD的不同.用饱和面积法、相关度法和均方差法3种激光干扰图像质量评价方法,定量分析了CMOS成像受激光干扰的程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张检民		19	72	6.0	7.0
5	张震		12	55	4.0	7.0
7	徐作冬		9	27	3.0	5.0
11	盛良	四川大学物理科学与技术学院	2	11	2.0	2.0