熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素

• 作者: 付胜波 宋红元 易达 罗磊 魏灵巧 黄瑞成
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 石膏 主次量元素 硫 四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂 X射线荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 448-453
• 页数: 6页
• 分类号: O657.34|P578.72
• 字数: 4515字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.04.012

摘要

X射线荧光光谱法（ XRF）已经应用于石膏等非金属矿物的测定，但由于石膏标准物质匮乏、硫含量较高且在高温易挥发损失，给测定带来了一定困难。本文采用石膏标准物质、高纯硫酸钙和其他国家一级标准物质（土壤、水系沉积物、碳酸盐）配制人工标准物质拟合校准曲线，优化稀释比、熔矿温度等熔融制样条件，用理论α系数校正基体效应，建立了采用XRF同时测定石膏矿中10个主次量元素（硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶）的分析方法。样品与四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂的稀释比为1：9，在1050℃温度下样品熔融完全。方法检出限为4~135μg/g，精密度（RSD，n＝12）小于3.0%。本方法配制的人工校准样品加强了样品基体的适应性，使用的四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂在样品熔融过程中可有效地结合硫，抑制了硫的挥发损失，适用于批量分析硫含量高达12.60%~51.91%的实际石膏矿物。