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浅谈军用电子元器件的可靠性技术
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摘要：
电子元器件是保证电子产品运行的基本单元，其可靠性直接影响武器装备的工作状态。现代可靠性设计的重点是将器件的失效物理与电路设计紧密地联系在一起，使可靠性是组成完整电路与设备不可缺少的部分。国内电子元器件可靠性技术研究水平相比国外先进技术差距较大，大部分仍是基于统计理论的可靠性试验管理方式。
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6σ管理技术
质量
可靠性管理
可靠性增长
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军用电子元器件
可靠性强化试验
可行性
试验应力
试验剖面
敏感参数
试验夹具
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电子元器件
测试系统
软件结构
电子产品
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文献信息
| 篇名 | 浅谈军用电子元器件的可靠性技术 | ||
| 来源期刊 | 集成电路通讯 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 电子元器件 可靠性技术 可靠性试验 | ||
| 年，卷（期） | jcdltx_2015,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 35-40 | |
| 页数 | 6页 | 分类号 | TB114.3 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
五维指标
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2015(0)
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研究主题发展历程
节点文献
电子元器件
可靠性技术
可靠性试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路通讯
主办单位：
中国兵器工业第214研究所
出版周期：
季刊
ISSN：
CN：
开本：
大16开
出版地：
安徽省蚌埠市06信箱
邮发代号：
创刊时间：
1983
语种：
chi
出版文献量（篇）
868
总下载数（次）
16
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