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摘要:
单总线芯片是指将地址线、数据线、控制线合为一根信号线的一类集成电路,论文通过研究基于自动测试系统的单总线芯片测试方法,以单总线温度传感器芯片 DS18B20为例,具体介绍了其测试程序的开发过程。
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结构特点
基于单总线温度检测的接口时隙分析
DS18S20
单总线
时隙
单总线通信协议
温度检测
基于CAN总线和单总线的在线式防误闭锁系统设计
CAN总线
单总线网络
智能电磁锁
防误闭锁
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于 ATE 的单总线芯片测试方法研究磁
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 单总线芯片 测试程序 DS18B20 自动测试系统
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 测试原理与技术
研究方向 页码范围 110-112
页数 3页 分类号 TN407
字数 1794字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙崇钧 2 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
单总线芯片
测试程序
DS18B20
自动测试系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
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28
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