基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究

• 作者: 何浚 孙娟 梁坚 郑文云
• 来源期刊: 云光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 热像仪 单片机 功能测试 元器件质量控制
• 年，卷（期）: ygjs,（2）
• 页码范围: 34-39
• 页数: 6页
• 分类号: TN929.53

摘要

根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求，基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路，通过软件编程控制单片机完成各种功能，根据测试结果判断单片机功能的正确性，实现了C8051F系列单片机的功能检测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙娟		6	0	0.0	0.0
2	何浚		2	0	0.0	0.0
3	梁坚		3	0	0.0	0.0
4	郑文云		2	0	0.0	0.0