缺陷层厚度的随机扰动对一维光子晶体带隙的影响

• 作者: 卢意红 王磊 石敏 胡恒江 路彦红 郭付才 黄茂松
• 来源期刊: 应用物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 厚度 随机度 全向带隙 透过率
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 83-87
• 页数: 5页
• 分类号: O7

摘要

本文利用特征矩阵法,分析了缺陷层厚度的随机扰动对一维光子晶体带隙的影响。结果表明,当随机度为0.03时,光子晶体的全向带隙和全向带隙率变化不大,同时缺陷处的透过率变化也不明显。当随机度达到0.3时,光子晶体的全向带隙和全向带隙率变化较小,但缺陷处的透过率只能达到原来的0.4。当随机度达到0.5时,光子晶体只有一个全向带隙,其缺陷处的透过率也降到0。本文的研究对一维光子晶体的设计和制备提供了有价值的参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王磊		1	0	0.0	0.0
2	路彦红		1	0	0.0	0.0
3	黄茂松		1	0	0.0	0.0
4	郭付才		1	0	0.0	0.0
5	卢意红		1	0	0.0	0.0
6	石敏		1	0	0.0	0.0
7	胡恒江		1	0	0.0	0.0