红外光学材料折射率均匀性的测量不确定度评定

• 作者: 周桃庚 梁菲 沙定国 王雷 麦绿波
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: GUM MCM 四步干涉法 红外光学材料均匀性
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 光学计量与测试
• 页码范围: 82-87
• 页数: 6页
• 分类号: TN247|HB302
• 字数: 5358字
• 语种: 中文
• DOI: 10.5768/JAO201536.0103004

摘要

基于多样品多型号仪器的测试信息及其GUM和MCM方法，讨论了四步干涉法测量红外光学材料折射率均匀性的测量范围及其测量不确定度评定。红外干涉测量的绝对灵敏度和准确度虽不及可见激光干涉仪，但采用了四步干涉测量的方法，消除了干涉仪的固有系统误差，有利于实现对红外光学材料折射率均匀性的高准确度测量。实际测试表明，该测量范围覆盖1×10－5～5×10－3，测量相对标准不确定度为2×10－1～2×10－2。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	麦绿波		107	466	12.0	16.0
2	周桃庚	北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室	19	167	5.0	12.0
3	沙定国	北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室	57	705	15.0	25.0
4	王雷		10	101	6.0	10.0
5	梁菲	北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室	2	4	2.0	2.0