X射线荧光光谱法测定石膏主、次化学成分

• 作者: 张志坚 李军 陈建良
• 来源期刊: 玻璃纤维
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 石膏 化学成分
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 技术研究
• 页码范围: 22-28
• 页数: 7页
• 分类号: TQ171.77+4
• 字数: 2638字
• 语种: 中文

摘要

使用压片法与熔片法对石膏的化学成分进行检测,对比后确定采用熔片法制样.以混合熔剂(Li2B4O7∶LiBO2=12∶22)作熔剂制备石膏熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定石膏中的Al2O3、CaO、MgO、SiO2、Fe2O3、SO3、K2O.该法测量准确度、精密度较好,所得结果可与化学分析结果接近.