基于三参数Weibull分布模型的LED寿命预测研究

• 作者: 吴波亮
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 半导体发光二极管 加速寿命试验 三参数威尔布模型 寿命预测
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 18-24
• 页数: 7页
• 分类号: TN312+.8|TB114.37
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.06.004

摘要

首先,通过恒定、步进和步降加速应力试验方法获得了小功率LED的寿命信息;然后,采用三参数Weibull统计分布模型描述了LED的寿命分布,并对所拟合的分布模型进行参数显著性检验;最后,结合Nelson原理和逆幂律定理,分别预测了LED试验样品的平均寿命和中位寿命.结果表明,利用步进加速应力试验所获得的LED寿命信息来进行寿命预测更加合适,可靠性水平相对较高;并且其预测LED的平均寿命值和中位寿命值也高于利用恒定和步降加速应力试验所得到的预测寿命值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴波亮		1	2	1.0	1.0