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摘要:
随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析了双端口静态存储器的结构和功能,研究了双端口静态存储器的读写功能失效模式和仲裁控制模块功能失效模式,并提出了一种“同测”方法的测试算法设计,给出了基于 V93000测试系统的实现方法,有效地减少了测试向量操作长度,提高了测试效率。
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内容分析
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文献信息
篇名 双端口静态存储器测试方法研究磁
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 双端口静态存储器 测试算法 测试向量 同测
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 测试原理与技术
研究方向 页码范围 83-86,112
页数 5页 分类号 TN407
字数 3651字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.022
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
双端口静态存储器
测试算法
测试向量
同测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
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28
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47579
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