微结构残余应力喇曼测量理论与应用

• 作者: 吴霞 富东慧 李秋 蒋永翔
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 喇曼光谱 残余应力 微结构 张量分辨测量理论 深度分辨测量技术
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 加工、测量与设备
• 页码范围: 467-473
• 分类号: O348.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.13250/j.cnki.wndz.2015.07.010

摘要

近些年微喇曼光谱技术在微结构残余应力测量领域受到了广泛关注.简要介绍喇曼光谱应力测量方法的基本原理,重点介绍微喇曼光谱技术力学测量理论及其在微结构残余应力测量应用方面的研究进展.微喇曼光谱技术目前主要应用于立方晶系和六方晶系材料的残余应力测量;已建立的单轴应力、静水应力和双轴应力状态下的喇曼频移-应力定量关系式,是使用该技术进行残余应力测量的理论基础.在今后一段时间内,喇曼残余应力测量技术的发展将集中在复杂应力状态的张量分辨残余应力测量理论、其他类型晶体材料的喇曼应力测量理论以及深度分辨的三维喇曼残余应力测量技术三个方面.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	富东慧	天津大学天津市现代工程力学重点实验室	31	230	8.0	14.0
2	蒋永翔	天津职业技术师范大学天津市高速切削与精密加工重点实验室	18	43	4.0	5.0
3	李秋	天津职业技术师范大学天津市高速切削与精密加工重点实验室	12	18	3.0	4.0
4	吴霞	天津职业技术师范大学天津市高速切削与精密加工重点实验室	1	0	0.0	0.0