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小节距高可靠CQFN型陶瓷封装外壳工艺技术
小节距高可靠CQFN型陶瓷封装外壳工艺技术
作者:
余咏梅
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
CQFN
结构设计
热设计
关键工艺
可靠性
摘要:
介绍了小节距高可靠CQFN型陶瓷封装外壳产品结构设计和关键工艺技术研究内容.就设计的新颖性和如何解决0.50 mm小节距陶瓷外壳产品的冲孔、注浆、0.10 mm细线条金属化印刷、焊盘凸台钎焊、电镀等工艺技术问题进行了阐述,指出了今后努力的方向,为集成电路、高速高频器件封装具有更优电性能、可靠性、封装密度开辟了新的途径.
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相关学者/机构
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期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
小节距高可靠CQFN型陶瓷封装外壳工艺技术
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
CQFN
结构设计
热设计
关键工艺
可靠性
年,卷(期)
2015,(1)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
6-9,27
页数
5页
分类号
TN305.94
字数
4675字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
余咏梅
4
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研究主题发展历程
节点文献
CQFN
结构设计
热设计
关键工艺
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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