基于巡检自愈策略的FPGA抗辐射方法研究

• 作者: 朱文明 李志强 汤吉波 马赫
• 来源期刊: 军事通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 巡检自愈 马尔科夫过程 刷新时间
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.16464/j.cnki.cn32-1289.2015.04.001

摘要

为解决SRAM型FPGA在空间应用过程中由于单粒子效应而发生故障的问题,提出了一种基于“巡检自愈”策略的抗辐射加固方法,并对其刷新时间的选取与优化问题进行了分析与研究.通过建模,运用马尔科夫过程对“巡检自愈”策略的各种状态进行分析,确定了给定轨道与可靠度要求下的最佳刷新时间.该方案在某低轨卫星中得到了初步验证,取得了满意的效果.