量子点膜结构及其物理光学特性分析

• 作者: 朱晨旭 陈凯 韩明星
• 来源期刊: 信息记录材料
• 学科: 工学
• 关键词: 量子点膜 QDEF 量子点 阻隔膜
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 16-19,32
• 页数: 5页
• 分类号: TQ31
• 字数: 2161字
• 语种: 中文

摘要

采用扫描电镜/能谱仪(SEM/EDS)、傅立叶转换红外光谱仪(FTIR)、热重分析测试仪(TGA)、荧光光谱仪、透光率/雾度仪以及水汽透过率测试仪,对量子点膜(QDEF)进行了宏观/微观形貌和结构、各层主要成分以及物理光学特性分析.结果表明,该量子点薄膜结构为上下两面为阻隔膜,中间层为量子点层(Quantum Dot Layer),各层中主要成分以聚丙烯酸酯和PET为主,TGA显示量子点层含有高含量的耐高温填料,荧光测试显示量子点层含有能够激发绿光和红光的量子点;通过分析判断,该QDEF可替代背光模组中的扩散膜;此外,该量子点膜所用阻隔膜具有10-2-10-3数量级水汽透过率,从而可有效保护量子点层.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩明星		15	13	2.0	3.0
2	陈凯		2	2	1.0	1.0
3	朱晨旭	西北农林科技大学理学院	3	3	1.0	1.0