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摘要:
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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
基于LabVIEW的集成电路测试分析仪
集成电路测试
LabVIEW
SN754410
USB/串口转换电路
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
开关电流
频谱图形
测试向量
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 软件-集成电路-网络测试技术
来源期刊 信息通信技术 学科
关键词
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目 方向标
研究方向 页码范围 4-8
页数 5页 分类号
字数 6773字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李华伟 中国科学院计算技术研究所 55 595 14.0 22.0
2 李晓维 中国科学院计算技术研究所 127 1467 20.0 32.0
3 寿国础 44 397 11.0 18.0
传播情况
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引文网络
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息通信技术
双月刊
1674-1285
11-5650/TN
大16开
北京市大兴区亦庄经济开发区北环东路1号2号楼6层B6013
2007
chi
出版文献量(篇)
1229
总下载数(次)
9
总被引数(次)
6707
论文1v1指导