Vishay为宇航、国防应用而推出的高性能、高可靠性E/H系列薄膜电阻实现“T”级失效率

• 作者: 赵佶
• 来源期刊: 半导体信息
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜电阻 E/H VISHAY 失效率 表面贴装 航天应用 环境测试 外形尺寸 功率调节 激光微调
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 页码范围: 18-19
• 页数: 2页
• 分类号: TM54

摘要

【正】Vishay Intertechnology,Inc.增强其通过MIL-PRF-55342认证的E/H系列精密薄膜表面贴装电阻芯片,为重要的航天应用提供"T"级失效率。这些QPL器件经认定具有TCR特性E、H、K、L和M,有12种外形尺寸。为保证Vishay DaleThin Film电阻具有确定的可靠性,这些器件进行了100%的筛选和广泛的环境测试,包括100%的A组功率调节和B组抽样测试,通过这些测试对器件进行分级,认可达到"T"级失效率。另外,这些薄膜电阻满