介观LC电路中电容、电感和外源流突变所产生的量子压缩

• 作者: 吴卫锋 范洪义
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 量子光学 介观LC电路 数-相量子化 量子压缩
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 量子光学
• 页码范围: 335-340
• 分类号: O431.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2015.03.012

摘要

通过采用有序算符内的积分技术(IWOP技术),对介观LC电路量子化方案所得到的哈密顿量进行了分析,探讨了该方案下LC电路电容、电感、外源流在突变时所产生的量子压缩效应.结果标明:电容突变反映在正交组q呈现压缩效应;电感突变反映在另一正交相p呈现压缩效应;而外源流的非线性突变反映出来的是数-相压缩.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范洪义	中国科学技术大学材料科学与工程系	65	60	3.0	4.0
2	吴卫锋	池州学院机械与电子工程系	10	5	1.0	1.0