金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价

• 作者: 陈才明
• 来源期刊: 电力电容器与无功补偿
• 关键词: 金属化薄膜电容器 损耗角正切 介质损耗 金属损耗
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 54-56,60
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.14044/j.1674-1757.pcrpc.2015.01.012

摘要

电容器的损耗是由介质损耗和金属损耗二部分组成,损耗角正切(tanδ)是金属化薄膜电容器重要技术参数,如果通过测试能找出引起损耗超标的原因,将有利于产品质量的持续改进提高.通过简化电容器的等效电路和采用不同频率的测量分析,可定性判定损耗角正切超标的原因,同时指出测量金属化薄膜电容器损耗角正切(tanδ)应着重于产品的一致性和试验后增量,对于追求“越小越好”的观点需要改变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈才明		9	46	4.0	6.0