一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证

• 作者: 刘杰 成科 杨振雷 杨海波 王晓辉 童腾 苏弘
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 单粒子效应 VersaTile RAM Block
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 核电子学与仪器
• 页码范围: 37-43
• 页数: 7页
• 分类号: TN386
• 字数: 2492字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.020404

摘要

随着现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)在现代航天领域的广泛应用,FPGA的单粒子效应(Single Event Effect,SEE)逐渐成为人们的研究热点.选择Microsemi公司Flash型FPGA分布范围最广的可编程逻辑资源VersaTile和对单粒子效应敏感的嵌入式RAM单元RAM BIock作为单粒子效应的主要测试对象,提出了两种不同的单粒子效应测试方法;然后,使用仿真工具ModelSim对提出的两种电路的可行性进行了仿真验证;最后,基于自主研发的实验测试平台,在兰州重离子加速器(Heavy Ion Research Facility in Lanzhou,HIRFL)上使用86Kr束进行了束流辐照实验,实验结果表明,测试方法合理有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏弘	中国科学院近代物理研究所	88	364	9.0	15.0
2	刘杰	中国科学院近代物理研究所	218	1905	24.0	36.0
3	王晓辉	中国科学院近代物理研究所	70	810	13.0	26.0
7	杨海波	中国科学院近代物理研究所	54	407	9.0	18.0
11	杨振雷	中国科学院近代物理研究所	5	11	1.0	3.0
15	成科	中国科学院近代物理研究所	3	13	2.0	3.0