基于IEEE1500标准的IP核内建自测试设计

• 作者: 冷冰 谈恩民
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: IP核测试 内建自测试 IEEE1500标准
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 应用天地
• 页码范围: 75-80
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 2634字
• 语种: 中文

摘要

针对内建自测试(BIST )技术在SoC测试上的应用问题 ,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法.该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单元 ,实现了测试壳在各种工作模式下的指令操作 ,并结合BIST的工作原理设计了测试控制器的结构和工作流程.最终以8位超进位加法器为例 ,在Quartus II环境下对整个测试系统进行了功能验证.验证结果表明 ,IEEE 1500测试壳可在BIST控制器作用下正确完成指令和数据传输 ,本设计对IP核的测试功能有效可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	冷冰	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	4	1.0	1.0