脉冲激光在电子设备加固评估中的应用

• 作者: 曹洲 田恺 薛玉雄 高欣
• 来源期刊: 空间电子技术
• 关键词: 单粒子效应 脉冲激光 集成电路
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 电路技术
• 页码范围: 81-87
• 页数: 7页
• 字数: 6827字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2015.03.014

摘要

单粒子效应是诱发卫星电子设备在轨发生故障的主要原由之一。文章结合实验室开展的空间电子设备单粒子效应敏感性评估试验，介绍了基于脉冲激光单粒子效应试验系统，开展的空间电子设备单粒子效应敏感性评估试验研究，分析总结了空间电子设备单粒子效应敏感性评估试验和加固措施验证的基本过程和试验结果。依据试验过程和结果分析，提出了空间电子设备系统级单粒子效应加固性能实验验证的基本要求和建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹洲	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	14	60	4.0	7.0
2	高欣	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	6	11	2.0	3.0
3	薛玉雄	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	22	63	4.0	6.0
4	田恺	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	5	17	2.0	4.0