核自旋和离心扭曲因子对分子跃迁谱线强度的影响研究

• 作者: 吕兵 宋晓书 王晓璐
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 核自旋 离心扭曲 线强度 乙烯
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 原子、分子结构与光谱
• 页码范围: 715-722
• 页数: 8页
• 分类号: O561.3
• 字数: 3655字
• 语种: 中文
• DOI: 103969/j.issn.1000-0364.2015.10.001

摘要

利用分子光谱理论方法，计算并讨论了核自旋和离心扭曲常数对分子配分函数和跃迁线强度的影响．结果表明，核自旋只有在温度非常低的情况下才对分子配分函数和跃迁线强度有明显影响，对于C2 H2分子，在5 K的低温其对跃迁线强度的影响为-0．18%，但其影响随着温度的降低迅速增加，到2 K时其影响达到-8．53%；离心扭曲常数对分子跃迁线强度的影响主要在中等温度和高温，对于C2 H2分子，在500 K时其影响为0．03%，到5000 K时达到0．81%．研究结果对极端条件下的分子光谱研究具有一定的参考价值．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋晓书	贵州师范大学物理与电子科学学院	73	188	6.0	7.0
2	王晓璐	贵州师范大学物理与电子科学学院	21	32	3.0	4.0
3	吕兵	贵州师范大学物理与电子科学学院	50	88	5.0	5.0