浅谈电子测试技术的改进

• 作者: 周洪强
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 电子测试 计算技术 信息技术
• 年，卷（期）: 2015,（21）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 124,143
• 页数: 2页
• 字数: 1022字
• 语种: 中文

摘要

近些年来,我国科学技术飞速发展,逐步渗透到我们的日常生活中来,并在市场上占据非常重要的地位.以电子测试技术为例,现阶段,我国市场对该技术的需求越来越高.在这种环境下,如何进一步提高电子测试技术,满足社会发展的需求,成为了大家普遍关注的话题.本文从电子测试技术的现状出发,系统的阐述了电子测试技术的改进途径,旨在进一步促进我国电子测试技术的进一步发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周洪强		13	24	3.0	4.0