试件表面缺陷对SHPB试验影响的数值分析

• 作者: 任韦波 刘俊良 张国喜 许金余
• 来源期刊: 防护工程
• 关键词: SHPB 表面缺陷 数值模拟 ANSYS/LS-DYNA 应力均匀性
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 理论分析与数值计算
• 页码范围: 50-55
• 页数: 6页
• 语种: 中文

摘要

利用有限元软件ANSYS/LS-DYNA建立了完整的三维φ100 mm SHPB试验系统有限元模型,验证了模型的可靠性.从试件端面的应力均匀性、应力脉冲的传播规律以及重构后的试件本构关系3个方面,分析了冲击荷载作用下试件表面缺陷对试验造成的影响.结果表明:随着缺陷尺寸的不断增大,试件端面的应力均匀性先减小后增大;随着缺陷位置向端面边缘的不断偏移,试件端面的应力均匀性逐渐升高;在试件端面缺陷的作用下,杆中反射脉冲峰值明显升高,前沿升时变化不大,透射脉冲峰值有所降低,前沿升时明显增大;不同缺陷对试件重构应力-应变曲线离散程度的影响,与对端面应力均匀性的影响具有相同的规律.