标准单元电路-版图设计自动优化技术

• 作者: 吴玉平 张学连 张琦 方山 陈岚
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 参数化电路优化 复用技术 版图微调 电子设计自动化 标准单元
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 半导体集成电路
• 页码范围: 744-748,782
• 分类号: TN305.6|TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.10.004

摘要

提出了一种标准单元的电路-版图设计自动优化技术.根据目标电学性能等确定电路中器件的参数值,然后根据参数变化微调现有的标准单元版图,快速自动生成符合设计规则的新版图.该技术可从新版图中获取电路寄生参数,对电路的电学性能进行评估,进一步提高电路-版图设计自动优化速度.测试表明,该技术既可以用于加速标准单元建库和设计移植,也可以支持对更高层的SOC设计进行延时和功耗的在位优化,加速设计收敛,可缩短开发周期.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈岚	中国科学院微电子研究所	86	361	10.0	14.0
2	张琦	中国科学院微电子研究所	36	584	14.0	24.0
3	吴玉平	中国科学院微电子研究所	8	10	2.0	3.0
4	张学连	中国科学院微电子研究所	3	3	1.0	1.0
5	方山	中国科学院微电子研究所	2	3	1.0	1.0