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摘要:
X射线荧光分析中,X射线管产生的原级谱的分布对荧光分析的影响很大。尤其是在元素间吸收增强效应的校正过程中,基本参数法要求准确获得X射线原级谱的强度分布。使用MCNP程序模拟不同加速电压、不同靶材料、不同铍窗厚度等条件下电子打靶后的X射线能谱分布,为X射线荧光分析仪研制过程优化X光管靶材、管压等提供依据,实现高精度的X射线荧光分析。
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X射线荧光光谱分析的新进展
X射线
荧光光谱
光谱分析
内容分析
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文献信息
篇名 X 射线荧光分析中原级谱分布的计算
来源期刊 同位素 学科 工学
关键词 X射线荧光分析 蒙特卡罗方法 计算谱 原级谱分布
年,卷(期) 2015,(2) 所属期刊栏目 放射性同位素及应用技术
研究方向 页码范围 89-92
页数 4页 分类号 TL816+|1
字数 2413字 语种 中文
DOI 10.7538/tws.2015.28.02.0089
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何高魁 13 24 4.0 4.0
2 黄小健 7 17 3.0 4.0
3 赵江滨 3 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线荧光分析
蒙特卡罗方法
计算谱
原级谱分布
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
同位素
双月刊
1000-7512
11-2566/TL
大16开
北京275信箱65分箱
82-681
1988
chi
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