一种SRAM型FPGA内嵌CPU软核的SEU效应防护设计与验证

• 作者: 周建华 杜新军 胡剑平
• 来源期刊: 遥测遥控
• 学科: 航空航天
• 关键词: SRAM型FPGA CPU软核 SEU防护
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 论文与报告
• 页码范围: 47-51
• 页数: 5页
• 分类号: V443+.1
• 字数: 2925字
• 语种: 中文

摘要

SRAM型FPGA内嵌CPU软核开发成本低、开发过程灵活,可以替代独立的DSP或CPU器件,执行星载设备核心控制功能.但这种内嵌CPU软核容易受到空间单粒子翻转效应(SEU)的影响.SEU可能导致内嵌CPU软核的硬件或软件故障,对其在轨应用影响较大.提出一种针对SRAM型FPGA内嵌CPU软核的SEU防护方案,通过“三模冗余+动态刷新”对CPU软核的硬件结构进行防护,通过冗余自刷新模块替换对CPU软核的存储区进行防护.该方案经过了软件注错验证及粒子辐照试验验证,证明其能够有效提高SRAM型FPGA内嵌CPU软核对SEU的客错能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜新军		2	9	1.0	2.0
2	周建华		5	14	2.0	3.0
3	胡剑平		6	16	2.0	3.0