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紫外-真空紫外光谱反射率测试系统
紫外-真空紫外光谱反射率测试系统
作者:
匡海鹏
曹小涛
汪龙祺
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
光谱反射率
光谱分辨率
紫外-真空紫外
锁相放大
摘要:
为获取紫外-真空紫外光学元件的光谱反射率 ,构建了一套反射率测试系统.该反射率测试系统主要由Seya-Namioka紫外-真空紫外单色仪、样品精密转台为主体的光机结构和电子学系统组成.首先,介绍了系统测量原理 ,采用双光路补偿法消除了光源随时间的飘移 ,通过改变系统光路进行两次测量来获取反射光与入射光数据,进而得到光谱反射率.接着对电子学硬件系统进行描述 ,给出了驱动控制单元与信号处理采集单元的硬件设计与组成.因紫外-真空紫外光谱信号微弱 ,采用了锁相放大的方法提高了测量精度.该反射率测试系统测试结果表明波长重复性0.05nm,反射率测量重复精度为1.8% ,系统功能完备稳定性好 ,能够实现对光学元件的高精度测量.
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文献信息
篇名
紫外-真空紫外光谱反射率测试系统
来源期刊
国外电子测量技术
学科
工学
关键词
光谱反射率
光谱分辨率
紫外-真空紫外
锁相放大
年,卷(期)
2015,(9)
所属期刊栏目
理论与方法
研究方向
页码范围
17-21
页数
5页
分类号
TH741|TN23
字数
2285字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
曹小涛
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
29
178
8.0
12.0
2
匡海鹏
中国科学院航空光学成像与测量重点实验室中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
36
455
11.0
20.0
6
汪龙祺
中国科学院航空光学成像与测量重点实验室中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
19
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光谱反射率
光谱分辨率
紫外-真空紫外
锁相放大
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
国外电子测量技术
主办单位:
北京方略信息科技有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1002-8978
CN:
11-2268/TN
开本:
大16开
出版地:
北京东城区北河沿大街79号2楼
邮发代号:
82-141
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5838
总下载数(次)
16
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