阵元失效条件下的阵列天线性能测试方法

• 作者: 张达 王茂磊 肖胜红 赵景斐
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列天线 阵元失效 测试方法
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TN911
• 字数: 3261字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2015.08.15

摘要

针对阵元失效条件下阵列天线性能测试的问题，分析了阵元失效对阵列天线方向图造成影响的机理，并给出了失效条件下方向图的仿真结果。针对阵列天线的阵列形式及系统架构，设计了一种阵元失效条件下阵列天线性能指标的测试方法，并进行了试验测试验证，试验结果表明了该方法的可行性和正确性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖胜红		9	5	2.0	2.0
2	张达		2	2	1.0	1.0
3	赵景斐		4	0	0.0	0.0